冷熱沖擊試驗(yàn)箱(三箱)是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測(cè)試設(shè)備，冷熱沖擊試驗(yàn)箱(三箱)用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱制冷壓縮機(jī)啟停控制溫度（溫度波動(dòng)大、嚴(yán)重影響壓縮機(jī)壽命，已淘汰的技術(shù)）制冷壓縮機(jī)恒定運(yùn)行+加熱PID控制（導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實(shí)現(xiàn)溫度動(dòng)態(tài)平衡，浪費(fèi)了大量的電能）新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過(guò)技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機(jī)組制冷劑流量和流向，對(duì)制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實(shí)現(xiàn)對(duì)工作室溫度的自動(dòng)恒定。此方式在低溫工況下，可實(shí)現(xiàn)降低40%的能耗。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱(三箱)特點(diǎn)：
1、冷熱沖擊試驗(yàn)箱(三箱)的三箱設(shè)備區(qū)分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試產(chǎn)品置于測(cè)試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測(cè)試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
2、采用觸控式彩色液晶顯示人機(jī)界面控制器，操作簡(jiǎn)單、學(xué)習(xí)容易。
3、溫度控制精度高，全部采用PID自動(dòng)演算控制。
4、沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，做冷熱沖擊測(cè)試。
5、高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，最大時(shí)間可達(dá)999H，最大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
6、系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)衙擎或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
7、冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。
8、試料槽完全靜止，可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線。
9、蓄熱方式可避免使用職業(yè)傷害。（注：液態(tài)氣體所產(chǎn)生發(fā)氣,吸入肺部致使肺部氧氣量減少, 而產(chǎn)生工作倦怠,集中力降低）。
10、可選擇始動(dòng)位置，高溫或低溫開始循環(huán)。
11、具有預(yù)約起動(dòng)功能。
12、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及自動(dòng)除霜。
13、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)（手動(dòng)）除霜。運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線，異常及故障點(diǎn)顯示說(shuō)明及排除方法。
14、有異常或故障顯示及排除方法說(shuō)明。
15、歐美原裝高效率復(fù)疊壓縮冷凍機(jī)組，運(yùn)轉(zhuǎn)噪音低，省能源之設(shè)備
16、多重保護(hù)裝置，有效的保障系統(tǒng)的安全可靠運(yùn)行

冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
2.GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
3.GB/T2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)Ca：恒定交變濕熱試驗(yàn)方法。
4.GB2423.2-2006（IEC68-2-2）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
5.GB/T2423.3-2006（IEC68-2-3）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
6.GB/T2423.4-93（IEC68-2-30）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法
7.GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗(yàn)方法
8.GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法
9.GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》
10.GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)：恒定濕熱試驗(yàn)》
11.GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)：交變濕熱試驗(yàn)》
12.GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》濕熱試驗(yàn)
13.GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
14.GB/T5170.5-96《濕度試驗(yàn)設(shè)備》
15.GB/T10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
16.GB/T10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
17.GB/T10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
18.GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

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